TPD3S714-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S714-Q1EVM
TPD3S714-Q1EVM

Gam.:

Aprašymas:
Power Management IC Development Tools TPD3S714-Q1EVM

Prieinamumas: 10

Turime sandėlyje:
10 Galime išsiųsti iš karto
Gamintojo numatytas pristatymo laikas
12 Savaičių Apytikriai apskaičiuotas gamybos laikas gamykloje, jei dalių kiekis didesnis nei nurodyta.
Min. 1   Užsakoma po 1   Maks. 5
Vieneto kaina:
-,-- €
Plėt. Kaina:
-,-- €
Numatomas Įkainis:
Šis Produktas Siunčiamas NEMOKAMAI

Kainodara (EUR)

Qty. Vieneto kaina
Plėt. Kaina
83,85 € 83,85 €

Produkto Požymis Atributo vertė Pasirinkite Požymį
Texas Instruments
Gaminio kategorija: Power Management IC Development Tools
RoHS:  
Evaluation Modules
Power Management Specialized
3.3 V, 5 V
TPD3S714-Q1
TPD3S714
Prekės Ženklas: Texas Instruments
Gamybos šalis: Not Available
Distribucijos šalis: Not Available
Kilmės šalis: US
Aprašymas/Funkcija: Evaluation module for TPD3S714-Q1 USB 2.0 interface protection with short to battery and short to ground
Interface Type: USB
Didžiausia darbinė temperatūra: + 125 C
Minimali darbinė temperatūra: - 40 C
Gaminio tipas: Power Management IC Development Tools
Kvalifikacija: AEC-Q100
Gamyklinės pakuotės kiekis: 1
Subkategorija: Development Tools
Rasta produktų:
Norėdami rodyti panašius produktus, pažymėkite bent vieną langelį
Pasirinkite bent vieną žymimąjį langelį, kad būtų rodomi panašūs šios kategorijos produktai.
Pasirinkti atributai: 0

TARIC:
8473302000
CNHTS:
8543709990
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300499
ECCN:
EAR99

TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S714-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed for the evaluation of the TPD3S714-Q1, a USB 2.0 interface protection IC. The evaluation module contains four TPD3S714-Q1's (U1, U2, U3, and U4). U1 is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 & USB2) for capturing system-level tests. U2 is configured with 4 SMA (S1 - S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. U3 is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. U4 is pinned out for device-level tests.