TMCS1100EVM

Texas Instruments
595-TMCS1100EVM
TMCS1100EVM

Gam.:

Aprašymas:
Srovės jutiklių kūrimo priemonės TMCS1100 isolated Ha ll-effect current s

Prieinamumas: 6

Turime sandėlyje:
6 Galime išsiųsti iš karto
Gamintojo numatytas pristatymo laikas
12 Savaičių Apytikriai apskaičiuotas gamybos laikas gamykloje, jei dalių kiekis didesnis nei nurodyta.
Min. 1   Užsakoma po 1   Maks. 5
Vieneto kaina:
-,-- €
Plėt. Kaina:
-,-- €
Numatomas Įkainis:

Kainodara (EUR)

Qty. Vieneto kaina
Plėt. Kaina
72,55 € 72,55 €

Produkto Požymis Atributo vertė Pasirinkite Požymį
Texas Instruments
Gaminio kategorija: Srovės jutiklių kūrimo priemonės
RoHS:  
Evaluation Modules
Isolated Hall-Effect Current Sensor
TMCS1100
3 V to 5.5 V
Prekės Ženklas: Texas Instruments
Interface Type: Analog
Gaminio tipas: Current Sensor Development Tools
Serija: TMCS1100
Gamyklinės pakuotės kiekis: 1
Subkategorija: Development Tools
Vieneto Svoris: 349,895 g
Rasta produktų:
Norėdami rodyti panašius produktus, pažymėkite bent vieną langelį
Pasirinkite bent vieną žymimąjį langelį, kad būtų rodomi panašūs šios kategorijos produktai.
Pasirinkti atributai: 0

Reglamentavimo kodai
CNHTS:
8543709990
CAHTS:
8473302000
USHTS:
8473301180
MXHTS:
8473300401
ECCN:
EAR99
Klasifikacija pagal kilmę
Kilmės šalis:
Jungtinės Valstijos
Šalis, kurioje pagaminta:
Jungtinės Valstijos
Distribucijos šalis:
Ne
Šalis gali keistis siuntimo metu.

TMCS1100EVM Sensor Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TMCS1100EVM Sensor Evaluation Module (EVM) is a tool intended to facilitate rapid and convenient use of the TMCS1100. The TMCS1100 is an isolated Hall-effect precision current sense monitor utilizing an external reference. This evaluation module allows the user to push the maximum operating current through the Hall input side while measuring the isolated output. The fixture layout is not intended as a model for the target circuit or laid out for electromagnetic (EMI) testing. Texas Instruments TMCS1100EVM consists of a single PCB, breakable into four individual pieces to allow the evaluation of the different device variants.