SI8274ISO-KIT

Skyworks Solutions, Inc.
634-SI8274ISO-KIT
SI8274ISO-KIT

Gam.:

Aprašymas:
Power Management IC Development Tools

Prieinamumas: 6

Turime sandėlyje:
6 Galime išsiųsti iš karto
Gamintojo numatytas pristatymo laikas
4 Savaičių Apytikriai apskaičiuotas gamybos laikas gamykloje, jei dalių kiekis didesnis nei nurodyta.
Min. 1   Užsakoma po 1
Vieneto kaina:
-,-- €
Plėt. Kaina:
-,-- €
Numatomas Įkainis:

Kainodara (EUR)

Qty. Vieneto kaina
Plėt. Kaina
21,35 € 21,35 €

Produkto Požymis Atributo vertė Pasirinkite Požymį
Skyworks
Gaminio kategorija: Power Management IC Development Tools
RoHS:  
Evaluation Kits
Gate Driver
2.5 V to 5.5 V
5 V to 30 V
Si8274
Si8274
Prekės Ženklas: Skyworks Solutions, Inc.
Didžiausia darbinė temperatūra: + 125 C
Minimali darbinė temperatūra: - 40 C
Išvesties Srovė: 4 A
Pakavimas: Bulk
Gaminio tipas: Power Management IC Development Tools
Gamyklinės pakuotės kiekis: 1
Subkategorija: Development Tools
Vieneto Svoris: 78,840 g
Rasta produktų:
Norėdami rodyti panašius produktus, pažymėkite bent vieną langelį
Pasirinkite bent vieną žymimąjį langelį, kad būtų rodomi panašūs šios kategorijos produktai.
Pasirinkti atributai: 0

TARIC:
8542399000
CNHTS:
8543709990
CAHTS:
8534000011
USHTS:
8473301180
JPHTS:
854239099
MXHTS:
8542399901
ECCN:
3B992

Si827x-EVB Evaluation Boards

Silicon Labs Si827x-EVB Evaluation Board is used to evaluate the Si827x family of high CMTI performance ISOdrivers. The boards includes the Si8271 and one of the Si8273, Si8274 or Si8275 version. Screw terminals are included for quick evaluation of the ISOdrivers' key parameters. Test points for the devices' pins are also included to accommodate direct connection.

Si8274ISO-KIT Gate Driver Evaluation Board

Skyworks Solutions Inc. Si8274ISO-KIT Isolated Gate Driver Evaluation Board allows designers to evaluate Skyworks' Si827x family of high CMTI performance ISO drivers. The board comes populated with the Si8271 or the Si8274 version of the family. The Skyworks Solutions board includes screw terminals for quick evaluation of the devices’ key parameters and also includes test points on each device’s pins to accommodate direct connection to the designer’s end system.